X射线元件

公司自主研制的新型X射线薄膜探测器XFD-100可以用在同步辐射X射线吸收精细结构谱（XAFS）光束线上，可与现有的XAFS测量系统集成，用于薄膜材料元素的X射线吸收谱测量。XFD-100提供了X射线荧光和全电子产额两种模式，可同时测量，在不同层次上研究薄膜材料中吸收原子的近邻结构。

XFD-100的特点

• 采用掠入射几何，为薄膜材料的测量而优化，更有效地利用光的辐照面积，且无需过滤片和Soller狭缝去除弹性散射对荧光谱的影响。
• 通过特有技术有效地去除来自薄膜单晶衬底（如硅片）的衍射信号污染。
• 探测器具有大的固体接受角，充分利用荧光信号，信噪比高。
• 由于采用气体探测器，动态范围高，没有半导体探测器固有的剂量饱和问题。
• 可在X射线荧光与全电子产额两种模式下同时测量X射线吸收谱。
• 样品室很方便与高温和通气气氛等测量条件集成，便于原位测量。

欣彧公司提供从产品定制化设计，系统集成到系统软件开发的服务。

高性能聚焦光学元件是X射线检测技术获得高微区空间分辨率的关键器件。X射线组合折射透镜可有效地实现对高光子能量X射线的聚焦。X射线组合折射透镜基于折射效应工作，具有不改变光路、聚焦系统结构简单、尺寸小以及抗辐射损伤能力强等优点。 X射线组合折射透镜通常采用微纳光刻技术制备。

参考文献

1. Tao Liu, Rolf Simon, David Batchelor,Vladimir Nazmov and Michael Hagelstein, A desktop X-ray monochromator for synchrotron radiation based on refraction in mosaic prism lenses, J. Synchrotron Rad, 19 (2012) 191. （pdf file,1.06 MKB, download）
2. Werner Jark, On easily tunable wide-bandpass X-ray monochromator based on refraction in arrays of prisms, J. Synchrotron Rad, 19 (2012) 492.

• 德国Smaract精密电动四刀狭缝
• 组成：两维电动狭缝，由Smaract SMS-20-20-S组成，可系统定制
• 量程：0-20mm
• 刀片材料：可选
• 最小步长：1nm
• 精度： 1nm
• 大气和真空款式可选
• 运动维度：每刀可在XY两维独立运动，也可以固定的光阑联动
• 应用：激光、射线和辐射物理等领域的高精度光束成型(shaping)控制。